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高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產(chǎn)品置于測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產(chǎn)品置于測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元器件的安全性能測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
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